地層的電阻率與地層組成之礦物、顆粒、組態,以及地層之含水量及水的鹽度有關。其中與地層的顆粒度大小、含水量及水的鹽度關係較為重要。因此可用地層的電阻率來研判地層的岩性、含水量及含鹽度,或探測地層內的異常構造。

        直流電阻法是以直流或低頻交替直流電,經一對電極(電流極)通入地下,藉由地層建立電場,以另一對電極(電位極)測得其間的電位差。此電位差與通入地層之電流強度、電極間的相對位置及各地層的導電性有一特定之關係存在,藉此可獲得不同厚度之地層視電阻率。透過量測時電極展距的改變,量得不同深度之地層反應訊號後,經資料的分析與解釋即可得地層之電阻率分布。 常用之施測方式又可區分為垂直地電阻探測(VES, Vertical Electric Sounding)二維與三維電阻率影像剖面(RIP, electrical resistivity image profiling)兩種。

 

垂直地電測深探測 | 地電阻影像剖面探測

    ~ hsung.      20090713.