垂直地電阻測深探測,其透過電極所量得之電流強度、電位差及電極相對位置(展距),在基於電性均質且厚度無限大地層之假設下,計算所得之電阻率稱之為視電阻率(apparent resistivity)。通常視電阻率不代表地下各電性地層的實際電阻率,而是代表在此種電極排列情形下所有電性地層的綜合效應。當電流極展距增加,其視電阻率變化將反應深部地層的特性,因此透過不同展距之量測資料作逆推即可求得地下各電性地層之實際電阻率及厚度,進而推定地下岩層特性、含水狀況等。

        此種施測方法具有施測簡易、價格便宜及可快速獲得接地深度及電阻等特點。工程界常用於廠房建築或重要設施之基地接地電阻量測。

 

 

 

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~ Hsung

~ 20080616